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日本issoku光學非接觸式小直徑內(nèi)徑測量儀IDM-30EX/100EX 任何人都可以立即以高精度和高速度進行測量 [易于與EX系統(tǒng)對齊。校準環(huán)規(guī)和剪刀規(guī)的理想選擇。]

日本hu-brain芯片零件六面圖像檢查設備 觸摸屏使操作員易于操作。 也可以通過更換零件來使用。 您可以將檢查范圍設置為多邊形窗口中的每個角。

日本hu-brain圓晶/芯片外觀品質(zhì)檢測設備 可以高速且高精度地檢查在晶片工藝和切割工藝中出現(xiàn)的外觀缺陷。 可以檢查各種圖案的芯片。 對于每種產(chǎn)品類型，可以使用可變的圖像分辨率（1.5至5 µ）進行檢查。