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15270896115圖像粒度分析儀Mac-View Version.5在陶瓷納米粉體中的應(yīng)用
納米粉體通常以顆粒的形式存在，可分為金屬、高分子和陶瓷納米粉體。陶瓷納米粉體在塑料、橡膠、涂料、造紙、藥物、油墨、磨料、傳統(tǒng)建筑陶瓷和高性能陶瓷等領(lǐng)域有著極為廣泛的應(yīng)用。例如，納米Al2O3、SiO2加入到普通橡膠中可以提高橡膠的彈性、耐磨性和介電特性，添加到塑料中可提高塑料的強度、韌性、致密性和防水性；納米CaCO3、ZnO可改善聚氨酯涂料的硬度和機械性能。納米Al2O3、ZrO2 粉末燒結(jié)成的各種高性能陶瓷可降低燒成溫度、減少能耗，且力學(xué)及熱學(xué)性能都得到極大改善。
納米粉體在上述應(yīng)用領(lǐng)域發(fā)揮重要作用，在很大程度上依賴于其形貌、粒徑( 或孔徑) 及其分布，因此，對納米粉體進行準確表征十分關(guān)鍵。在常用的測試方法中，激光粒度儀的反演算法有時難以讓人滿意; BET氮吸附法缺乏顯微形貌信息; 因為納米顆粒不容易分散，透射電鏡獲取的又是二維投影圖像，觀察時需盡量避開堆疊區(qū)域，導(dǎo)致視場狹小并缺乏統(tǒng)計性，所以在形貌和尺寸分布的判斷上仍需謹慎。而掃描電子顯微鏡（SEM）能夠彌補以上方法的不足。
結(jié)合各種識別工具，測量分析各類顆粒物
通過讀取SEM、TEM等拍攝的圖像并識別目標(biāo)顆粒，自動計算粒徑分布并將顆粒形狀數(shù)字化。
通過使用手寫板的手動分析工具，可以輕松識別形狀復(fù)雜的顆粒和團聚顆粒。
Mac-View Version.5 中的新功能和改進
?在粒子獲取模式中添加了“針狀"
■凝集粒子的一次粒徑分析
現(xiàn)在可以評估聚集顆粒的初級粒徑，這在以前是很困難的。
■納米粒子的評價
只要尺度信息可用，無論顆粒大小如何，都可以進行分析。
■多邊分析評估
可以自動測量粒度分布并分析顆粒形狀（圓形度、長徑比等）。此外，可以獲得豐富的數(shù)據(jù)，從而可以評估聚集顆粒的初級顆粒。
■操作方便
它不需要任何特殊知識，并且易于操作，因此不需要操作人員任何技能水平。
■無需昂貴的資金投入
只要您準備好圖像（jpeg、位圖），在 PC 上安裝軟件后即可立即使用。
納米粒子、凝聚粒子、顆粒、燒結(jié)體截面、乳液粒徑等
■綜合粉末分析軟件Mac-PIAS
Mac-PIAS是綜合性粉末分析軟件的新維度，可以集中管理和分析使用各種方法測量的“粒度分布數(shù)據(jù)"。
■篩分試驗數(shù)據(jù)分析軟件Macmesh
Macmesh 是一種工具，可以消除數(shù)據(jù)密集型篩分測試中的人為錯誤，并提高測試效率。
| 測量功能 | 面積、周長、長軸、短軸、最大長度、最小長度、海伍德直徑、圓周橢圓當(dāng)量直徑、圓度系數(shù)、長寬比、形狀系數(shù) 1 至 3、費雷特直徑、馬丁直徑、克魯姆賓直徑、雙軸平均直徑、雙軸幾何平均直徑、雙軸調(diào)和平均直徑、長度等 |
|---|---|
| 分析功能 | 粒徑%、ON/PASS分析、體積/個數(shù)/長度轉(zhuǎn)換、峰值數(shù)據(jù)分析、匯總數(shù)據(jù)分析、粒徑分類轉(zhuǎn)換、篩上/下轉(zhuǎn)換、形狀因子分析、數(shù)據(jù)合成、數(shù)據(jù)分組 |
| 其他功能 | 各種圖形顯示功能、各種打印輸出功能、文本輸出功能、圖像輸出功能等 |
| 運行環(huán)境 | ●運行Microsoft Windows 7/8/10（32/64位兼容）的PC/AT兼容機 *如果使用Windows 7/8，請使用Windows Update安裝最新的更新程序。 ●USB 硬件密鑰，用于通過可用的 USB 端口進行許可證驗證（必需） ●連接掃描儀（兼容 TWAIN）和選購的液晶手寫板時，需要 USB 端口等接口 ●顯示：最高顯示全高清分辨率（1,920 x 1,080） ●CPU：根據(jù)操作系統(tǒng)要求試用（CPU 1 GHz或更高） ●內(nèi)存：2GB 內(nèi)部硬盤至少需要200MB 可用空間 ●安裝時需要 CD-ROM 驅(qū)動器 |
| 兼容標(biāo)準 | 基于JIS Z8827-1 |
