EDDIO處理的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)

關(guān)于渦流測(cè)試（ECT）

渦流探傷檢查在JIS Z 2316中說(shuō)明如下。

定義

一種測(cè)試方法，可利用試件中產(chǎn)生的渦流變化來(lái)評(píng)估劃痕，厚度，形狀，材料等。

原理

渦流測(cè)試基于導(dǎo)體中電流的感應(yīng)。測(cè)量和分析的量與感應(yīng)電流的分布有關(guān)。由于它是由交流電激發(fā)的，因此測(cè)量量由復(fù)平面中的矢量量表示。
渦流在材料深度方向上的分布受物理定律控制，并且電流密度隨著深度的增加而顯著降低。減少的方法由深度的指數(shù)函數(shù)表示。

影響測(cè)量的項(xiàng)目

1. 材料電導(dǎo)率
2. 材料滲透率
3. 測(cè)試產(chǎn)品的尺寸和形狀
4. 渦流測(cè)試探頭與測(cè)試產(chǎn)品之間的幾何關(guān)系
   →通過(guò)在復(fù)雜平面上顯示測(cè)量值可以獲得更詳細(xì)的信息。

優(yōu)點(diǎn)

1. 無(wú)需接觸產(chǎn)品即可使用。
2. 它可以在沒(méi)有接觸介質(zhì)（例如水）的情況下使用。
3. 可以進(jìn)行高速測(cè)試

（根據(jù)JIS Z 2316）

實(shí)用功能如下

1. 可以將檢查結(jié)果作為電氣輸出獲得，因此可以自動(dòng)進(jìn)行檢查
2. 檢查速度快，因?yàn)榭梢圆唤佑|而進(jìn)行檢查
3. 無(wú)需檢查的前處理或后處理
4. 檢查部位被限制在某種程度上簡(jiǎn)單的形狀

漏磁漏磁通測(cè)試（MLFT）

漏磁通探傷試驗(yàn)的原理在JIS Z 2319的初稿中說(shuō)明如下。

原理

當(dāng)用磁化器將鐵磁測(cè)試件磁化并且測(cè)試體具有諸如刮擦之類(lèi)的不連續(xù)性時(shí)，磁通量泄漏到測(cè)試體的外部。在漏磁通探傷試驗(yàn)方法中，通過(guò)磁傳感器來(lái)測(cè)量從缺陷漏出的磁通的分布和強(qiáng)度，以檢測(cè)缺陷。漏磁通探傷測(cè)試方法因?yàn)椴慌c試件接觸并可以進(jìn)行高速測(cè)試，所以適合于鋼鐵材料等生產(chǎn)線的檢查，機(jī)械零件的檢查以及鋼絲繩的維護(hù)檢查。這是一種非破壞性的測(cè)試方法?！?br />（摘自JIS Z 2319修訂草案）

除了不受電導(dǎo)率的影響外，影響測(cè)量的所有項(xiàng)目，強(qiáng)度和實(shí)用功能與渦流探傷測(cè)試均無(wú)顯著差異。

但是，由于材料被磁化并檢測(cè)到缺陷，因此不能應(yīng)用于非磁性材料。

影響測(cè)量的項(xiàng)目包括以下內(nèi)容

1. 材料滲透率
2. 測(cè)試產(chǎn)品的尺寸和形狀
3. 渦流測(cè)試探頭與測(cè)試產(chǎn)品之間的幾何關(guān)系
   →通過(guò)在復(fù)雜平面上顯示測(cè)量值可以獲得更詳細(xì)的信息。

相對(duì)于其他檢查方法的優(yōu)點(diǎn)如下

1. 無(wú)需接觸產(chǎn)品即可使用。
2. 它可以在沒(méi)有接觸介質(zhì)（例如水）的情況下使用。
3. 可以進(jìn)行高速測(cè)試

就實(shí)際使用而言，它具有與渦流探傷檢查相同的特性

1. 可以將檢查結(jié)果作為電氣輸出獲得，因此可以自動(dòng)進(jìn)行檢查
2. 檢查速度快，因?yàn)榭梢圆唤佑|而進(jìn)行檢查
3. 無(wú)需檢查的前處理或后處理
4. 檢查部位被限制在某種程度上簡(jiǎn)單的形狀

渦流探傷（ECT）與漏磁通探傷（MLFT）的區(qū)別和特性

下表比較了渦流探傷（ECT）和漏磁通探傷（MLFT）與其他表面探傷方法的區(qū)別和特性。